میکروسکوپ لیکاDM12000Mبا استفاده از اصول نوری، نمونه اندازه گیری شده در میکروسکوپ بر روی یک پلتفرم مشاهده قرار می گیرد و تصویر نمونه را از طریق انعکاس یا انتقال نور به عینک میکروسکوپ بزرگ می کند. با توجه به ویژگی های پراکندگی و جذب نور نمونه، پدیده تصویری نمونه در زمان تصویر برداری با تغییر پارامترهای تغییر می کند. ناظران می توانند میکروساختار و بافت نمونه را بر اساس این تغییرات تعیین کنند.

ویژگی های میکروسکوپ لیکا DM12000M:

طراحی جدید نوری، می تواند بازرسی سریع اولیه حالت ماکرو و عملکرد مسیر نوری ماوراء بنفش شیب (OUV، حالت مشاهده ماوراء بنفش شیب) را ارائه دهد، نه تنها وضوح را افزایش می دهد بلکه ظرفیت بازرسی 12 اینچی (300 میلی متر) سیلیکون را نیز افزایش می دهد. تکنولوژی جدید روشنایی LED طراحی شده و ادغام شده در میکروسکوپ، تابش گرمایی کم و تکنولوژی ادغام داخل بدنه، وضعیت ایده آل جریان هوا خارج از بدنه را تضمین می کند.

میکروسکوپ فلزی لیکا DM12000M برای کوتاه کردن زمان بررسی، افزایش کارایی بررسی، لوازم جانبی تمرکز خودکار برای بررسی نور انتقال، لوازم جانبی تمرکز خودکار می تواند با تمام روش های مشاهده نور بازتاب دهنده، حتی از جمله مشاهده میدان تاریک و تداخل تفاضلی، همکاری کند. تمرکز خودکار سریع و دقیق، حتی در هنگام تغییر روش مشاهده، به طور دقیق در زمان واقعی پیدا می شود.

سه، دو دستگاه روشنایی قابل انتخاب، نوع عمومی و نوع دیافراگم با مقدار بالا. برای FPD، بازرسی صفحه ماسک روشنایی مناسب را فراهم می کند و می تواند مجهز به آینه های قطب بندی برای مشاهده ساده قطب بندی نور پروژکتور شود. کنتراست بالا، وضوح بالاتر، بررسی بزرگتر روش مشاهده فلورسنت برای بررسی باقیمانده های چسب فلورسنت ماژول اسپکتروسکوپ فلورسنت سیستم نوری UV می تواند کنتراست و وضوح بالاتر را با وضوح تا 0.12 میکرومتر ارائه دهد.

چهارم، انواع روش های فلورسنت مانند U.B.G برای باقیمانده های چسب نوری و بررسی OLED وجود دارد. رابط ارتباطی مناسب برای کنترل و پارامترهای گسترش میکروسکوپ و افشا نوری دسترسی به RS232C برای ویفر و دستگاه ها و حتی بازرسی داخلی پاهای جوشکاری شامل یک رابط RS232C است که اجازه می دهد تا بخش الکتریکی میکروسکوپ را با PC کنترل کند و می تواند چندین میکروسکوپ در خط فرآیند در همان حالت تنظیم کار کند.

از جمله لوازم جانبی مانند عین مادون قرمز تخصصی، برای اصلاح اختلاف از نور مرئی به نور مادون قرمز نزدیک، برای بازرسی عمیق IC یا داخلی، می تواند بازرسی کامل WAFER BUMP را به دست آورد.

طراحی صرفه جویی در انرژی کم عمر را به طور قابل توجهی افزایش می دهد و مطابق با مفهوم حفاظت از محیط زیست سبز است. طراحی دستکاری یک کلیک کاربر می تواند به راحتی تبدیل مقیاس و روشنایی مربوطه و اثرات پوشش را انجام دهد.