نمونه ای که برای آزمایش EBIC انجام می شود باید مواد نیمه هادی باشد و دارای میدان الکتریکی داخلی باشد که برای جداسازی جفت حفره الکترونی استفاده می شود.
با اندازه گیری، ما می توانیم موقعیت و عرض گره PN را بدست آوریم، ویژگی های اصلاح را از طریق مطالعه منحنی IV تعیین کنیم، طول انتشار چند حامل را مطالعه کنیم، موقعیت نقص را مطالعه کنیم، تجزیه و تحلیل خرابی دستگاه های الکترونیکی.

مثال 1: تست موقعیت اتصال PN، عرض، طول انتشار کوچک

مثال 2: آزمایش تراکم خطای بیت مواد نیمه هادی، محاسبه کمی خطای بیت پیچ در مواد سلول های خورشیدی Si.