ایستگاه کاری الکتروشیمی اسکن M370 یک مفهوم کاملا جدید در زمینه الکتروشیمی سوند اسکن است که برای اندازه گیری الکتروشیمی با وضوح فوق العاده بالا، بدون تماس و تحلیل فضایی طراحی شده است.

M370 یک سیستم ماژولار است که تمام تکنولوژی های الکتروشیمی میکرو اسکن سنج های امروزی و همچنین آزمایش مورموگرافی میکرو بدون تماس لیزری را اجرا می کند:

میکروسکوپ الکتروشیمی اسکن (SECM)
تست الکترود لرزش اسکن (SVET)
آزمایش کاوشگر کلوین (SKP)
آزمایش امپدانس الکتروشیمی میکروزون (LEIS)
تست مایکرو قطره الکترولیت اسکن (SDS)
آزمایش میکرو منطقه ای بدون لمس (OSP)

M370 از سیستم های موقعیت یابی سریع و دقیق حلقه بسته x، y و z با وضوح نانومقیاس استفاده می کند و همراه با یک سیستم جمع آوری داده مناسب که کاربران بر اساس آزمایش خود انتخاب می کنند، پیکربندی می کنند. این سیستم با طراحی انعطاف پذیر و مهندسی انسان آسان برای اطمینان از ورود به استخر، نمونه و کاوشگر طراحی شده است.

میکروسکوپ الکتروشیمی اسکن SECM370

SECM370 یک سیستم میکروالکترود اسکن دقیق با وضوح فضایی بسیار بالا است که می تواند جریان را در محلول تشخیص دهد یا جریان را بین میکروالکترود و نمونه اعمال کند. برای تشخیص، تجزیه و تحلیل، یا تغییر خواص شیمیایی سطح و رابط نمونه در محلول استفاده می شود.

سیستم تست کالوین SKP370

سیستم اسکن کالوین SKP370 یک ابزار بدون تماس و بدون تخریب است که می تواند برای اندازه گیری تفاوت عملکرد بین مواد هدایت کننده، فیلم پوشش داده شده یا نیمه هادی و کاوش نمونه استفاده شود. این تکنولوژی با استفاده از یک سانج ظرفیت لرزشی کار می کند که تفاوت بین سطح نمونه و نوک سوزن مرجعی سانج اسکن را با تنظیم یک ولتاژ پیش اضافی اندازه گیری می کند. عملکرد و سطح مرتبط است. ویژگی های منحصر به فرد SKP امکان اندازه گیری را در محیط های مرطوب و حتی گازی فراهم می کند و تحقیقات غیرممکن را به واقعیت تبدیل می کند.

سیستم تست الکترود لرزش SVP370

تکنولوژی الکترود لرزش اسکن SVP370 (SVET) یک اسکن غیر مخرب است که با استفاده از سنج لرزش برای اندازه گیری ویژگی های الکتریکی تولید شده توسط سطح نمونه های الکتروشیمیایی شیمیایی استفاده می شود. اطمینان حاصل کنید که کاربر می تواند واکنش های الکتروشیمی محلی و خوردگی را در زمان واقعی اندازه گیری و مقداری کند.

سیستم آزمایش امپدانس الکتروشیمی میکروزون LEIS370

سیستم آزمایش امپدانس الکتروشیمیایی میکروزون ترکیبی از تکنولوژی EIS امپدانس الکتروشیمیایی و تکنولوژی اسکن میکروزون است تا امپدانس میکروزون محلی و پارامترهای مربوطه را با دقت تست کند.

برنامه * تصویربرداری پیچیده در برابر امپدانس فیلم نازک * تصویربرداری مستقیم از رسانه های رشد استخر * مشخصات واکنش ترکیب نوری * باتری * سنسور * غیرفعال شدن فلزات و آلیاژها * استخر سوخت * خوردگی

سیستم اسکن قطره ای الکترولیت SDS370

سیستم میکرو قطره الکترولیت می تواند سطح تماس مایع با نمونه را محدود کند و در نتیجه واکنش های الکتروشیمی و خوردگی را در سطح تماس مستقیم قطره با نمونه اندازه گیری کند. این کار می تواند فعالیت الکتروشیمی را در وضوح فضایی ارائه دهد و آن را به سطح کمی خاص نمونه محدود کند.

برنامه * مشخصات اکسید سطحی * مطالعات پوشش * ISFET 特征化 * نقطه خوردگی * تاثیر سرعت جریان بر خوردگی محلی

سیستم آزمایش غیر لمسی OSP370

با استفاده از سنسور جابجایی لیزری بدون تماس، ماژول OSP370 می تواند سطوح بدون تماس را با دقت و سرعت اندازه گیری کند. بدون تماس با سطح نمونه، می تواند یک تصویر نزدیک سه بعدی از سطح با وضوح کمتر از 1 میکرون در محدوده ارتفاع 10 میلیمتر ارائه دهد.

لوازم جانبی
انواع لوازم جانبی اختیاری، از جمله انواع سونج های اختیاری، استخر اختیاری (Environmental)